FIB

聚焦离子束(FIB)将离子源(Ga)产生的离子束经过离子枪加速、聚焦后作用于样品表面,再结合扫描电子束可实现微纳米尺度下的切割、加工、表征等工作。


1.电子束流范围:1pA-400nA;

2.着陆能量范围: 20eV-30keV;

3.加速电压范围:200V-30kV;

4.最大水平视场宽度:7mm工作距离下为3.0mm,60mm工作距离下为7.0mm;

5.加速电压范围:500V-30kV;

6.离子束流范围:1.5pA-65nA;

7.样品台和样品 灵活五轴电动样品台;

8.XY范围:110mm;z范围:65mm; 旋转:360(连续);

9.倾斜范围:-15°到 +90%,XY重复精度:3m;

10.最大样品高度:与优中心点间隔85mm;

11.最大样品质量(0°倾斜):2kg(包括样品托);

12.最大样品尺寸:可沿X、Y轴完全旋转时直径为110mm(若样品超出此限值,则样品台行程和旋转会受限)。